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主營產品:X射線熒光光譜儀

日本理學光譜儀

型 號

產品時間2020-04-17

所屬分類日本理學光譜儀

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產品描述:ZSX Primus II日本理學光譜儀采用上照射設計,再不用擔心汙染光路,清理麻煩和增加清理時間等問題。
產品概述

ZSX Primus II日本理學光譜儀采用上照射設計,再不用擔心汙染光路,清理麻煩和增加清理時間等問題。 

集合所有ZSX係列的優點:雙真空係統,自動真空控製,mapping/微區分析,超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等。 

ZSX PrimusII日本理學光譜儀可靈活分析複雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。zui的mapping包可以檢測同質性和夾雜物。完全具備迎接21世紀實驗室挑戰,ZSX PrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀,分析精度高。可以對4Be到92U進行定性、定量分析。 

元素的檢量範圍從0.0001% ~ 100%,如進行前處理,可以再下降2 ~ 3個數量級。 


1、大幅度提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準確度使用理學創的強度***的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75,保證輕元素分析的靈敏度。采用APC自動真空控製機構,保證超輕元素分析的準確度(理學專利)。使用4KW 30um超薄窗、超尖銳、長壽命***管,適合超輕元素分析。

2、采用新光學係統,實現對重元素的高靈敏度分析 

3、強大的粉末樣品測試功能 

上照式,可以長時間防止粉末汙染分光室 

雙泵、雙真空設計(樣品室/預抽真空室),防止粉末樣品的細微粉塵混入分光室 

粉末附件,采用電磁閥真空密封,防止細微粉塵進入真空泵內 

4、加裝CCD視頻攝像機構,位置分辨率可達100um,可以進行0.5mm的微區分析,可以測量Mapping(理學專利) 

5、提高少量樣品的分析準確度 

使用r-θ樣品台(理學專利),***了X射線照射不均以及分光晶體強度不均的問題,保證樣品在X射線強、條件下測量。 

6、樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置 

7、48位自動進樣器 

8、PAS自動調整脈衝高度係統(理學專利) 
ACC自動清洗F-PC芯線係統(理學專利) 
可以保證儀器在***狀態下使用 

9、節約能源(自動減少X射線管的輸出);節約PR-10氣體;節約He氣(選用He室時);節省空間 

10、自動監控、自動開關機、自動節能等多功能操作軟件 

11、***的軟件分析,NEW SQX軟件 

12、全中文界麵

可以分析材料的狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。 

可以分析材料的領域包括:電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。

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