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主營產品:X射線熒光光譜儀
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輝光放電光譜儀

型 號GDA750/GDA550

產品時間2020-05-29

所屬分類輝光放電光譜儀

訪問量339

產品描述:輝光放電光譜儀(GDA)於1968年首次出現,用於各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發展,尤其擅長於表麵和塗層分析。與傳統的激發技術相比,輝光放電技術的突出優點是能夠表層分析樣品的表層。
產品概述

輝光放電光譜儀(GDA)於1968年首次出現,用於各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發展,尤其擅長於表麵和塗層分析。與傳統的激發技術相比,輝光放電技術的突出優點是能夠表層分析樣品的表層。

 

適用於質量控製和材料研究

在金屬分析領域中,輝光放電分析是濃度分析和表麵分析理想的手段。

表麵處理工藝過程,如表麵滲碳硬化或滲碳熱處理等,都可以通過分析被處理材料的表麵和近表層區域實現質量控製。采用濃度分布分析功能可以精確地測量塗(鍍)層厚度及化學成分。

 

對於傳統的分析方法不能解決的材料分析問題,輝光放電光譜技術可以作為優先選用的方法。


采用可選的射頻光源(GDA750輝光放電光譜儀)可以分析非導體材料和塗層,如玻璃,陶瓷,釉質和油漆塗層。

 

GDA750可以配備60個以上的分析通道,並且能充分地滿足高分辨率和高精度的分析要求。塗(鍍)層的深度可測量至200um表麵分析和獲得的分辨率達1個原子層。分析軟件具有強大功能並且靈活易用;化學成分可以與其他特性,如被分析區域中的密度和質量分布同時測定。


通過比較塗(鍍)層工藝過程(CVD,PVD)前後的表麵特性,確保生產工藝過程佳化和大程度地避免廢品浪費。


GDA750也可用於塊狀樣品的分析(如金屬合金的化學成分),為複雜基體材料的分析提供具有良好線性的工作曲線。

 

主要特點:

1.塗(鍍)層材料和均相材料化學成分的分析,痕量和微量合金元素的檢測和測量

2.濃度分布測定和表層測量數據的定性/定量評價

3.測定被分析表麵層內部的相/相比

4.軟件基於Windows 2000環境,日常分析功能采用易用的軟件界麵,使用戶能很快地熟悉儀器的使用

5.具有許多適於用戶的軟件功能選項,如顯示輸出、數據傳輸和數據格式

 

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