歡迎訪問廣州红杏视频app下载免费版精密科學儀器股份有限公司網站!
主營產品:X射線熒光光譜儀
首頁 > 產品中心 > >掃描電子顯微鏡(電鏡) >Hitachi SU8010高分辨場發射掃描電鏡

高分辨場發射掃描電鏡

型 號Hitachi SU8010

產品時間2020-03-06

所屬分類掃描電子顯微鏡(電鏡)

訪問量180

產品描述:HITACHI SU-8010高分辨場發射掃描電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置,並配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時,分辨率為1.0nm,加速電壓為1kV時,分辨率為1.3nm。
產品概述

HITACHI SU-8010高分辨場發射掃描電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置,並配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時,分辨率為1.0nm,加速電壓為1kV時,分辨率為1.3nm。

 

日立2005年在中國推出了S-4800型高分辨場發射掃描電鏡,由於出色的應用性能、良好的穩定性和簡易的維護,收到了各界用戶的一致好評。

 

日立2011年新推出了它的後續機型----SU8010,它繼承了S-4800的優點,性能有進一步提高,1kv使用減速功能後,分辨率提升到1.3nm,相對於S-4800可以在更低的加速電壓下呈高分辨像,明顯提升了以往很難觀測的低原子序數樣品的觀測效果。

 

產品特點:

1. 低加速電壓成像能力,1kv分辨率可達1.3nm

2. 日立專li的ExB設計,不需噴鍍,可以直接觀測不導電樣品

3. Upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像

4. 可以根據樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能

5. 標配有冷指、電子槍內置加熱器,物鏡光闌具有自清潔功能

6. 儀器的烘烤維護及烘烤後的透鏡機械對中均可由用戶自行完成

 

主要用途:

掃描電鏡(SEM)可觀察納米材料、材料斷口的分析、觀察原始表麵、觀察區域細節、顯微結構分析等。

 

X射線能譜儀可進行成分的常規微區分析:元素定量、定性成分分析,實時微區成分分析,快速的多元素麵掃描和線掃描分布測量。分析範圍Be4~U92。

 

已廣泛應用於材料科學、金屬材料、陶瓷材料半導體材料、化學材料、醫藥科學以及生物等領域。

 

 

二次電子分辨率

1.0nm(加速電壓15kV、WD=4mm)
1.3nm(加速電壓1kV、WD=1.5mm)
加速電壓0.1~30kV
觀測倍率20~8000,000(底片輸出)
60~2,000,000(顯示器輸出)
樣品台
馬達驅動3軸馬達
5軸(選配)
行程X0~50mm
Y0~50mm
Z360°
T-5~70°
R1.5~30mm
zui大裝載尺寸100mm(zui大)
150mm(選配)
探頭
標配Lower高立體感圖像
Upper高分辨SE、BSE圖像
 
選配
STEM明場像、暗場像
YAG 探頭BSE圖像
半導體探頭BSE圖像
EBIC 電子束感生電流圖像
EDS元素分析
反汙染措施
冷指標配
物鏡光闌內置自清潔功能
電子槍內置加熱器
真空係統
離子泵3台
分子泵1台
機械泵1台

 

留言框

  • 產品:

  • 留言內容:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯係電話:

  • 常用郵箱:

  • 詳細地址:

  • 省份:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
在線客服
掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
訪問手機站